Mikroskop LeicaDM12000MMenggunakan prinsip optik, sampel yang diukur ditempatkan di platform pengamatan dalam mikroskop, dan gambar sampel diperbesar ke kacamata mikroskop melalui refleksi atau transmisi cahaya. Di bawah karakteristik sampel untuk penyebaran dan penyerapan cahaya, fenomena gambar sampel saat pencitraan terus berubah seiring dengan perubahan parameter. Pengamat dapat menilai mikrostruktur dan jaringan sampel berdasarkan perubahan ini.

Fitur Mikroskop Leica DM12000M:

Desain optik baru yang dapat menyediakan inspeksi awal cepat dalam mode makro dan fungsi jalur cahaya UV miring (OUV, mode pengamatan UV miring), tidak hanya meningkatkan resolusi tetapi juga meningkatkan kapasitas untuk memeriksa silikon 12 inci (300 mm). Teknologi pencahayaan LED baru yang dirancang dan diintegrasikan pada mikroskop, radiasi panas rendah dan teknologi integrasi dalam awak memastikan kondisi aliran udara luar awak yang ideal.

2, DM12000M Leica Metaphase Microscope mempersingkat waktu pemeriksaan, meningkatkan efisiensi pemeriksaan Aksesoris fokus otomatis untuk pencahayaan pemeriksaan cahaya transmisi Aksesoris fokus otomatis dapat sesuai dengan semua metode pengamatan pencahayaan refleksi, bahkan termasuk pengamatan lapangan penglihatan gelap dan interferensi diferensial. Fokus otomatis yang cepat dan akurat dapat ditemukan secara akurat bahkan saat perubahan pengamatan.

Ketiga, dua jenis peralatan pencahayaan tersedia, tipe umum dan tipe apertur numerik tinggi. Untuk FPD, inspeksi papan MASK menyediakan pencahayaan yang tepat dan dapat dilengkapi dengan kacamata polarisasi yang memungkinkan pengamatan polarisasi mudah dari cahaya proyeksi. Kontras tinggi, resolusi yang lebih tinggi, pemeriksaan zoom yang lebih tinggi Cara pengamatan fluoresensi untuk pemeriksaan sisa fotogravur Modul spektroskop fluoresensi Sistem optik UV dapat memberikan kontras dan resolusi yang lebih tinggi, hingga resolusi 0,12 μm.

Berbagai metode fluoresensi seperti U.B.G tersedia untuk sisa lem partikel optik dan pemeriksaan OLED. Antarmuka komunikasi yang nyaman untuk kontrol dan parameter pembesaran mikroskop dan apertur lampu pendek diperoleh RS232C untuk wafer dan peralatan, bahkan inspeksi internal kaki las aksesoris pengamatan inframerah dekat standar termasuk antarmuka RS232C yang memungkinkan untuk mengontrol bagian listrik mikroskop dengan PC, dan dapat mencapai agar beberapa mikroskop di jalur proses bekerja dalam keadaan pengaturan yang sama.

5, termasuk aksesoris khusus seperti objektif inframerah, untuk mengoreksi perbedaan dari cahaya yang terlihat ke gelombang inframerah dekat, untuk pemeriksaan dalam atau internal IC, dapat mencapai pemeriksaan komprehensif WAFER BUMP aksesoris pengukuran CD lebar garis otomatis dengan teknologi subpiksel untuk mencapai pengukuran CD yang sangat akurat.

Desain hemat energi rendah secara signifikan memperpanjang umur layanan, sesuai dengan konsep perlindungan lingkungan hijau. Desain manipulasi satu klik memungkinkan pengguna dengan mudah melakukan konversi zoom dan efek pencahayaan dan lining yang terkait.