Fitur Utama

Lebar pita 13 GHz, 16 GHz dan 25 GHz opsional

· Kelas bandwidth kombinasi probe dan oscilloscope

· Otomatis mengoptimalkan probe dan kinerja oscilloscope

· 2.0Vpk-pk rentang dinamis

± 2.5V rentang bias

· Sistem probe (-PS model) menyediakan kemampuan penuh

· Paket lunak portabel premium

· Depan las panjang dengan resistensi yang dapat diganti

· Karbidasi titik pengujian front-end mengoptimalkan integritas sinyal dan beban

· Impedansi probe super meminimalkan efek beban

Suara probe hingga 14 nV/√Hz

WaveLinkLebar pita tinggi(13-25) GHzProbe diferensial

Proba diferensial Dxx05-A 13-25 GHz dari Ricoh adalah probe uji bandwidth tinggi berkinerja tinggi dengan rentang dinamis dan rentang bias yang luas dan kebisingan rendah.

Sistem Deteksi Lengkap

Kit deteksi komprehensif yang hemat biaya yang mencakup amplifier diferensial, ujung depan las (X2), ujung depan pengujian titik, kabel, bagian koneksi yang cocok, bracket dan aksesoris lainnya, probe dan aksesoris semua dikemas dalam paket lunak portabel yang memungkinkan Anda memilih bandwidth yang Anda butuhkan dengan mudah.

Rentang dinamis tinggi dan rentang bias

Lebih dari dibayangkan 2.0Vpk-pk rentang dinamis tinggi dan bandwidth hingga 25GHz, serta kemampuan bias yang besar.

Paket lunak portabel premium

Paket lunak portabel canggih sangat nyaman untuk mengemas semua bagian dari sistem probe.

Front las berkinerja tinggi

ujung depan las panjang dengan resistansi yang dapat diganti, ujung resistansi eksternal membuat impedansi ujung depan dan impedansi titik uji sangat dekat,

Untuk meminimalkan beban sirkuit.

Karbidasi titik pengujian front end memaksimalkan integritas sinyal

Menggunakan ujung depan pengujian titik dengan resistansi serat optik karbonat untuk memberikan titik pengujian impedansi terdistribusi yang ideal, desain ini unik untuk Ricoh yang memberikan integritas sinyal yang lebih baik.

Impedansi probe super

Beban sirkuit dan sinyal berkurang 50% dibandingkan dengan probe bandwidth tinggi lainnya, yang secara signifikan mengurangi dampak pada pengujian.