Parameter yang dapat diukur
●Distribusi daya spektral relatif P(λ)●Pencahayaan (E)●Rasio S/P●Penampilan Warna (CRI)●Suhu Warna Terkait (CCT)●CIE 1931, Koordinat warna 1960 dan 1976●Perbedaan warna (SDCM)
●Indeks Konsistensi Pencahayaan TV (TLCI)●Indeks Realitas Warna (Rf)
●Indeks Kejenuh Warna (Rg)
Pengukuran luminositas, kromatisme, dan radiasi memasuki era spektrum
SPIC-300 menganjurkan spektroskopi untuk mengeksplorasi sifat cahaya dan mendapatkan parameter terperinci tentang luminositas, kromatisme, dan radiasi.
► Penilaian Gelap

► Menampilkan suhu warna

Konfigurasi kelas atas, pengalaman pengukuran baru
► Rentang pengukuran yang luas, akurasi pengukuran yang tinggi
Perlindungan Paten Internasional:SPIC-300 (Tipe BW) menggunakan teknologi SBCT yang dipatenkan secara internasional untuk memperluas rentang pengukuran fotometri dan meningkatkan akurasi.
Rentang pengukuran luminositas:0.01lx ~ 200klx
Sebuah SBCT:Metode kombinasi spektral-integral adalah metode akurasi tertinggi yang diakui di dunia untuk pengukuran luminositas / radiasi.
Menggunakan teknologi koreksi cahaya bervariasi matriks kompleks yang dipatenkan, sehingga kemampuan kontrol cahaya bervariasi dalam pengukuran spektrum dapat ditingkatkan 1 ~ 2 tingkat kuantitas.
► Pengukuran cerdas ultra cepat milidetik
Analisis pengukuran cerdas tingkat milidetik seperti spektrum, radiasi, luminositas, koloritas dan luminositas tanaman, cepat dan efisien.
●Data dapat dikeluarkan dalam berbagai format seperti excel, jpg, dll.●Sistem operasi multibahasa
► halus ringan antarmuka intuitif mudah dibaca mudah digunakan

Tampilan besar 5.0 inci dengan satu klik untuk membaca data operasi secara real-time
► Proba yang dapat dilepas dan teknologi transmisi nirkabel membuat pengukuran lebih fleksibel
Probe dapat mengambil sampel fleksibel dari berbagai sudut dan berbagai kesempatan.
► SD super besar kapasitas penyimpanan seluler, komunikasi real-time dengan smartphone dan komputer WIFI

Transfer WiFi kecepatan tinggi, membaca, mengedit dan mengelola data sangat nyaman.
